Características:
Modo de operación: Oscilatorio (Tapping) y Contacto.
Escáner: máximo 90 µm2, mínimo ≈1 µm2 imágenes de 192 a 448 puntos por líneas.
Medio de trabajo: Modo ambiental.
Tipo de muestras: Conductivas, no conductivas, material biológico (células, tejidos, etc.), alimentos, metales, cerámicos, películas delgadas, cristales, polvos, pinturas, nanoparticulas, alimentos, etc.
Aplicaciones:
El Microscopio de Fuerza Atómica sirve para caracterizar la superficie de muestras sólidas y semisólidas, relativamente planas. Obtiene información morfológica en 3D, a partir de imágenes topográficas de las mismas, así como parámetros superficiales tales como valores en Z, rugosidad, tamaño y límites de grano, distribución (homogeneidad) de partículas en pinturas o películas delgadas, entre otras. También se emplea en la determinación de propiedades mecánicas de los materiales, tales como fuerzas de atracción, repulsión, viscosidad, elasticidad y dureza.
Equipo disponible:
Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) ASYLUM RESEARCH, modelo MFP-3D Origin
Responsable:
Técnico Académico M. en C. Melina Tapia-T.
Ubicación
Edificio B, planta baja, Laboratorio XPS, Microscopía AFM y Confocal (CLSM)
Tel. (722) 2766610 Ext. 7739
Documentos:
Lineamientos (PDF) Protocolo de recepción de muestras (PDF) Guía de llenado de solicitud de servicio electrónica Solicitud de llenado electrónica
INFORMES Y SERVICIOS EXTERNOS: Servicios Analíticos CCIQS-UNAM Dr. Diego Martínez Otero y Marcela Guadarrama Aguilar
Carretera Toluca-Atlacomulco km 14.5, campus El Rosedal de la UAEM
Toluca, Estado de México, C.P. 50200
Email:
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Tel: (01 722) 276 66 10 Ext 7736 y 7702
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