19 -December -2018 - 04:59
Microscopio de Fuerza Atómica (AFM)


Características:

Modo de operación: Oscilatorio (Tapping) y Contacto.

Escáner: máximo 90 µm2, mínimo  ≈1 µm2 imágenes de 192 a 448 puntos por líneas.

Medio de trabajo: Modo ambiental.

Tipo de muestras: Conductivas, no conductivas, material biológico (células, tejidos, etc.), alimentos, metales, cerámicos, películas delgadas, cristales, polvos, pinturas, nanoparticulas, alimentos, etc.

Aplicaciones:

El Microscopio de Fuerza Atómica sirve para caracterizar la superficie de muestras sólidas y semisólidas, relativamente planas. Obtiene información morfológica en 3D, a partir de  imágenes topográficas de las mismas, así como parámetros superficiales tales como valores en Z, rugosidad, tamaño y límites de grano, distribución (homogeneidad) de partículas en pinturas o películas delgadas, entre otras. También se emplea en la determinación de propiedades mecánicas de los materiales, tales como fuerzas de atracción, repulsión, viscosidad, elasticidad y dureza.

Equipo disponible:

Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) ASYLUM RESEARCH, modelo MFP-3D Origin

Responsable:

Técnico Académico  M. en C. Melina Tapia-T.

Ubicación

Edificio B, planta baja, Laboratorio XPS, Microscopía AFM y Confocal (CLSM)

Tel. (722) 2766610 Ext. 7739

Documentos:

Lineamientos (PDF)
Protocolo de recepción de muestras (PDF)
Solicitud de servicio (PDF)
Solicitud de Análisis / Interpretación de resultados (PDF)
Solicitud de asesoría (PDF)*

* Favor de contactar al Técnico Académico para que se le proporcione hora y fecha de la asesoría.

INFORMES Y SERVICIOS EXTERNOS:

SECRETARIO TÉCNICO
M. en C. Baldomero Esquivel Rodríguez
Instituto de Química, UNAM
Circuito Exterior s/n, Ciudad Universitaria.
Delegación Coyoacán. C. P. 04510, México D.F.
This e-mail address is being protected from spambots. You need JavaScript enabled to view it
Tel: (+ 52 55)   56 22 44 42
Fax: (+ 52 55)  56 16 22 17